数字系统测试和可测试性设计 PDF下载

【作　者】（美）塞纳拉伯丁·纳瓦比（ZAINALABEDINNAVABI）著；贺海文，唐威昀译
【丛书名】电子与嵌入式系统设计译丛
【形态项】 370
【出版项】 北京：机械工业出版社 , 2015.06
【ISBN号】978-7-111-50154-1
【中图法分类号】TP271
【主题词】数字系统-系统测试
【参考文献格式】 （美）塞纳拉伯丁·纳瓦比（ZAINALABEDINNAVABI）著；贺海文，唐威昀译. 数字系统测试和可测试性设计. 北京：机械工业出版社, 2015.06.
内容提要:
这本书论述了数字系统测试和可测性设计，它通过数字电路设计实例和方法阐明了测试和可测试性的概念。本书还采用Verilog模型和Verilog测试平台实现并解释故障仿真和测试生成算法。本书的最大特点是广泛地使用Verilog和VerilogPLI编写测试应用，这把本书与其他讨论测试和可测试性的书籍区分开来。