GJB 2649-1996 军用电子元件失效率抽样方案与程序PDF免费下载

GJB 2649-1996 军用电子元件失效率抽样方案与程序

1范围
1.1 主题内容
本标准规定了失效率等级的鉴定程序,在选定的置信水平下确定和维持失效率等级的抽样方案，以及与失效率试验有关的批一致性检验程序。
1.2适用范围
当符合下列条件时，本标准适用于在军用电子元件规范中引用。
a.电子元件的设计基本上是相同的，生产基本上是连续的，生产工艺控制应符合GJB546A(电子元器件质量保证大纲)的规定;
b.电子元件可以合理地假定，其寿命服从指数分布，失效率在预期寿命内随时间是恒定不变的。对于服从威布尔分布的某些元件(如电容器)也可采用威布尔分布,但须经鉴定机构批准。
1.3应用指定南
a．本标准还为规范编写人员在使用本标准时提供指南(见附录A).并为规定有可誉性指标的元件的使用者提供参考资料；
b.鉴定机构应对本标准进行管理。
2引用文件
GB/T 3358.1-93 统计学术语 第一部分一般统计术语
GB/T 3358.2-93统计学术语第二部分 统计质量控制术语
GB/T 3358.3-93 统计学术语 第三部分 试验设计术语
GJB 451-90 可靠性维修性术语
GJB 546A-96 电子元器件质量保证大纲